本书全面论述了电源完整性问题，特别是在纳米级工艺下系统芯片的电源完整性的基本概念，揭示了其对于集成电路系统的重要意义，讨论了电源完整性问题在小工艺线宽下所遇到的种种挑战，以及为解决这些问题所引入的先进分析方法、管理技术及可用于设计前期的具有突破性的实用工具。<br />本书涵盖了电源完整性问题从基础理论到先进技术的各个方面，可作为相关专业本科生及研究生的教学指导用书。同时与其他大多数同类书籍相比，该书更强调直观理解、实用工具和工程实践，因而对于工作在纳米级工艺下，负责信号完整性、电源完整性、硬件设计、系统设计的工程师而言将是不可或缺的参考资料。

Rajendran Nair，（美）拉贾德.奈尔, Donald Bennett，（美）唐纳德.贝内特，长期从事电源完整性分析与管理工作，特别是纳米级工艺下对系统芯片的电源完整性分析与管理技术，发表论文多篇，专利多项。