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    曹白杨主编
    2010年

  • 2008年度ADI中国大学创新设计竞赛优秀论文选编 . 2008
    竞赛组委会编
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  • 电子元器件可靠性设计
    王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编
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