题名:高速数字接口原理与测试指南
作者:李凯编著
出版年:2014
ISBN: 978-7-302-37611-8
分类号: TN919.5
中图分类: 数据处理系统及设备
定价: 79
页数: 411 页
出版社: 清华大学出版社
装订: 平装

《高速数字接口原理与测试指南》结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解,同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里新的高速数字接口,对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结,以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。<br />《高速数字接口原理与测试指南》主要分为两个部分: 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理; 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。<br />《高速数字接口原理与测试指南》可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术,也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。

李凯,毕业于北京理工大学光电工程系,硕士学位,曾在国内知名通信公司从事多年硬件研究。2006年加入安捷伦公司,负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深入认知,对信号完整性、嵌入式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家,李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及IEEE ICCP、EDI CON等专业论坛大会上,同时在EDN China网站开设有个人技术博客。