题名:集成电路系统设计、验证与测试
作者:(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著
出版年:2008
ISBN: 978-7-03-021490-4
分类号: TN402
中图分类: 设计
定价: 62.00元
页数: 475 页

《集成电路系统设计、验证与测试》是“集成电路EDA技术”丛书之一,内容涵盖了IC设计过程和EDA,系统级设计方法与工具,系统级规范与建模语言,SoC的IP设计,MPSoC设计的性能验证方法,处理器建模与设计工具,嵌入式软件建模与设计,设计与验证语言,数字仿真,并详细分析了基于声明的验证,DFT,而且专门探讨了ATPG,以及模拟和混合信号测试等,《集成电路系统设计、验证与测试》还为IC测试提供了方便而全面的参考。