《电子设备系统可靠性设计与试验技术指南》(简称《指南》)是设备系<br />统可靠性设计与试验技术专著。由卢昆祥等编著的《电子设备系统可靠性设<br />计与试验技术指南》介绍了设备系统可靠性设计的方法与程序，可靠性试验<br />的理论和方法。《指南》包括4篇24章，内容有可靠性工程介绍与设备的可<br />靠性指标的种类和计算方法；设备系统的总体可靠性设计，如指标论证与确<br />定、可靠性预计、分配方法等；可靠性设计各项设计技术。如降额、冗余、<br />耐环境、电磁兼容、FMECA、FTA等设计技术；设备系统可靠性试验，包括基<br />本理论、统计试验方案、一般要求、试验条件的选择和试验周期的设计。现<br />场可靠性试验，可靠性增长试验，试验技术与管理等。本《指南》含有大量<br />的实例和实践资料，融合了编著者从事可靠性工作20多年的经验和体会。内<br />容全面，系统性强，理论联系实际，概念清楚，深入浅出，操作性强，通俗<br />易懂。本《指南》的读者对象是从事设备可靠性设计、试验的工程技术人员<br />、管理干部和使用方代表。可靠性设计的基本理论和方法，也可为电子元器<br />件研制生产单位的设计人员和管理干部参考使用，还可供大专院校师生作为<br />参考书，同时对其他与可靠性技术有关的科技工作者，也将有所裨益。