题名:数字集成电路设计验证 : 量化评估、激励生成、形式化验证
作者:李晓维 ... [等] 著
出版年:2010
ISBN: 978-7-03-027609-4
分类号: TN431.2
中图分类: 数字集成电路、逻辑集成电路
定价: 58.00元
页数: 411 页

《数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证》内容涉及数字集成电路设计验证的三个主要方面:量化评估、激励生成和形式化验证。主要包括寄存器传输级(RTL)电路建模、基于可观测性的覆盖率评估方法、设计错误模型;基于故障模型的激励生成、基于RTL行为模型的激励生成、覆盖率驱动的激励生成;基于可满足性的等价性检验、包含黑盒电路的形式化验证,以及不可满足问题。<br />全书图文并茂,阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论,对致力于数字集成电路设计验证方法研究的科研人员(尤其是在读研究生),具有较大的学术参考价值,也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。