《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基础概念、X射线粉末衍射的实验方法和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
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