《集成电路测试技术基础》包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外，《集成电路测试技术基础》配有一张DVD演示光盘，主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法，包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件连接及操作、LabVIEW软件的使用等，与图书文字内容相辅相成，以助于深化理解测试的概念。<br />《集成电路测试技术基础》适用于集成电路测试领域的技术人员阅读，也可作为微电子专业本科生和研究生的教材。