题名:电子元器件可靠性技术教程
作者:付桂翠 ... [等] 编著
出版年:2010
ISBN: 978-7-5124-0136-5
分类号: TN60
中图分类: 一般性问题
定价: 35.00元
页数: 273 页
出版社: 北京航空航天大学

《电子元器件可靠性技术教程》是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材,主要围绕元器件可靠性技术这一主题,针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。在使用可靠性保证中主要介绍了元器件选用控制、使用设计方法、静电防护、可靠性筛选、破坏性物理分析及失效分析技术等。《电子元器件可靠性技术教程》在编写过程中强调了理论与工程实践相结合,不仅具有系统的技术性,还具有较强的工程实用性,并对一些前沿的元器件可靠性技术,如MEMS器件的可靠性现状及失效机理等进行了简要介绍。<br />《电子元器件可靠性技术教程》也可供大专院校其他专业本科生、研究生使用及工程技术人员学习和参考。