题名:电子元器件可靠性试验工程
作者:罗雯，魏建中，阳辉等编著
出版年:2005
ISBN: 7-121-00965-X
分类号: TN606
中图分类: 测试、调整及设备
定价: 58.00
页数: 368 页
出版社: 电子工业出版社
装订: 平装(无盘)