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题名:SoC设计与测试
作者:(美) Rochit Rajsuman著
出版年:2003
ISBN: 7-81077-308-9
分类号: TP368.1
中图分类: 微处理机
译者: 于敦山
定价: 35.00元
页数: 210 页
出版社: 北京航空航天大学出版社
装订: 简裝本

SoC设计与测试 — (美) Rochit Rajsuman著

《SoC设计与测试》分别介绍了SoC的设计方法和测试方法。并介绍了逻辑核、存储器核及其模拟核的设计方法和需要注意的问题。