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题名:
SoC设计与测试
作者:
(美) Rochit Rajsuman著
出版年:
2003
ISBN:
7-81077-308-9
分类号:
TP368.1
中图分类:
微处理机
译者:
于敦山
定价:
35.00元
页数:
210 页
出版社:
北京航空航天大学出版社
装订:
简裝本
SoC设计与测试 — (美) Rochit Rajsuman著
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《SoC设计与测试》分别介绍了SoC的设计方法和测试方法。并介绍了逻辑核、存储器核及其模拟核的设计方法和需要注意的问题。