题名:VLSI测试方法学和可测性设计
作者:雷绍充, 邵志标, 梁峰著
出版年:2005
ISBN: 7-121-00379-1
分类号: TN47
中图分类: 大规模集成电路、超大规模集成电路
定价: 29.80元
页数: 300 页
出版社: 电子工业出版社
装订: 平装(无盘)