题名:超大规模集成电路测试 : 数字、存储器和混合信号系统
作者:(美)Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
出版年:2005
ISBN: 7-121-01490-4
分类号: TN47
中图分类: 大规模集成电路、超大规模集成电路
定价: 58.0
页数: 511 页
出版社: 第1版 (2005年8月1日)
装订: 平装

《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。